IEEE 2017 NSS/MIC/RTSD ControlCenter

Online Program Search result for ”keyword:"beam test"“ - One match

To search for a specific ID please enter the hash sign followed by the ID number (e.g. #123).

N-23-106 – First on-beam tests of the FARCOS frontend electronics (#3246)

L. Acosta1, 2, L. Auditore3, 4, C. Boiano5, G. Cardella2, A. Castoldi6, 5, M. D'Andrea2, E. De Filippo2, D. Dell'Aquila7, 8, S. De Luca3, 4, F. Favela2, F. Fichera2, N. Giudice9, 2, B. Gnoffo9, 2, A. Grimaldi2, C. Guazzoni6, 5, G. Lanzalone10, 11, F. Librizzi2, I. Lombardo7, 8, C. Maiolino11, S. Maffessanti6, 5, N. S. Martorana9, 2, S. Norella3, 4, A. Pagano2, E. V. Pagano9, 11, M. Papa2, T. Parsani6, 5, G. Passaro11, S. Pirrone2, G. Politi9, 2, L. Quattrocchi9, 2, F. Rizzo9, 11, P. Russotto11, G. Sacca'2, G. M. Salemi2, D. Sciliberto2, A. Trifirò3, 4, M. Trimarchi3, 4, M. Vigilante7, 8

Session: N-23 - NSS Poster Session II
Date: Wednesday, October 25, 2017, 10:20 am
Room: Grand Hall West ()